x荧光膜厚仪——金东霖科技

x荧光膜厚仪——金东霖科技能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

x荧光膜厚仪——金东霖科技* 采用x射线的荧光原理方法，这是适合测量非铁性镀层在钢材或非铁性金属底材上的厚度，甚至镍层在钢材上的厚度也可以测量。
* 对在铁上镀锌层、电路板的铜箔及孔铜壁的厚度测理也十分理想。而且可以在同一时间分别测量两层镀层厚度。
* 用来测量钢板上镀锌层及油漆的厚度，或是在铝上油漆层的厚度，涂镀可两用，是一款非常不错的仪器。
* zui显著的功能是可以穿透绿油测下面的铜厚，这是其他品牌仪器无法做到的。
* 适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同的准直器以适应各种应用情况.