x荧光膜厚仪——博曼

x荧光膜厚仪——博曼能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

x荧光膜厚仪——博曼规格描述：
1 X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统。
2 快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*灵敏度
3 准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器。
4 的*稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果 
5 例行进行简单快速的波谱校准：可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正，坚固的工业设计，可在实验室或生产线上操作。 
6 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱，性能优化
7 可分析的元素范围大：预置800多种容易选择的应用参数/方法
8 测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用，基本分析功能采用基本参数法校正。
9 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)