x荧光膜厚测试仪

x荧光膜厚测试仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

x荧光膜厚测试仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。 
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。 
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。 
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。 
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。 
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。 
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。 
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。 
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。