x荧光膜厚仪——深圳金东霖

x荧光膜厚仪——深圳金东霖能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

x荧光膜厚仪——深圳金东霖1.电动的X/Y 桌可以在测量门打开时变速移动X/Y 桌出来给操作员放置样品及关闭测量门时移动X/Y 桌变速返回到测量位置。
2.高解像彩色摄影机配合强大的放大倍数功能使样品的对位十分容易及在测量中也可以监视测量的位置。如型号配备了可编测量位置的仪器更有雷射对位装置来更快速及準确对準样品的位置测量。
3.开槽式的测量室设计，这可使大块及平坦的样品，比测量室还大的，例如：电路板，也可以测量。
4.在整体操作上，在简易操作及强大功能的电脑WinFTM?软件下，所有的测量数据的统计可以十分清楚地表达出来。
5.符合美国的出口规定，软件是仪器的基本操作.此软件可以同时间测量zui多至四层镀层、或是进行多至5元素的合金分析、又或是zui多测量两个正离子的药水浓度测量分析。
6.在不使用标準片做校正的情况下，可以达至一个相当不错的测量结果。
7.测量的準确度是可以用标準片校正来提高，程式是可以接受多至64个标準片来做校正，标準片校正也可以保证测量可以有追溯性。