BA 100—膜厚测试仪

BA 100—膜厚测试仪在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅-PIN-探测器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层.

BA 100—膜厚测试仪产品特点：
1. 即放即测！ 通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 
2. 以*的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 
3. 无标样测量！ 
4. 将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 
5. 通过广域观察系统更方便选择测量位置！ 
6. 通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（zui大250×200mm）中方便地测量位置