x荧光膜厚仪——金东霖

x荧光膜厚仪——金东霖能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

x荧光膜厚仪——金东霖* 仪器的特长：广泛应用型可测元素：AL～U 
* X射線管：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）
* 管电压：45kV 
* 管电流：1mA Be
* 窗滤波器：一次滤波器：A1-
* 自动切换二次滤波器：Co-
* 自动切换检测器：比例计数管 
* 样品观察：CCD摄像机 
* 对焦方式：激光自动对焦 
* 测定软件：世界上zui的FP法。数学计算测量方法 .
* 安全机能：测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能 仪器自诊断功能 
* 仪器介绍：测量数据与Word和Excel链接自动生成报告和数据处理