膜厚测试仪—bowman博曼

膜厚测试仪—bowman博曼仪器优势有：
★ 符合ISO3497标准测试方法：金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 
★ 符合ASTM B568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层 
★ 至多同时分析25种元素 
★ 经实践验证、坚固、耐用的设计，可在绝大多数严苛的工业条件下使用。
★ 空间占用小，节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。
★ 计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。

膜厚测试仪—bowman博曼在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅-PIN-探测器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层.